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應用科學類  >  工程  >  電機工程  >  電子工程  >  
   系統號碼372690
   書刊名半导体薄膜光谱学
   主要著者薛晨陽編著
   出版項北京 : 科學出版社， 2008
   索書號448.65 8686
   ISBN9787030223524
   
    
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　資料類型狀態應還日期預約人數館藏地索書號條碼號
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中文圖書區 Shelf		448.65 8686 2008C300681

內容簡介光譜技術是研究半導體薄膜材料表面特性、界面特性與成膜質量的重要工具。本書主要介紹了半導體薄膜光譜學的理論基礎和實驗基礎知識，從實驗原理、實驗裝置、實驗結果分析等方面詳細介紹了拉曼光譜，光致發光和光調制反射幾種實驗方法，并結合一系列實驗結果，具體分析了CuGase：薄膜的結構特性與光學特性。使讀者能夠全面、系統地了解半導體薄膜光譜技術的測試方法和分析方法。 本書內容新穎，深入淺出，有助于高年級本科生、研究生和科研人員在半導體薄膜光譜學學習研究中掌握基本原理和方法。本書可作為教學和科研的參考書。

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